2020年胶体与界面化学国际研讨会(CIC 2020) edit

BEGINS:2020.03.27
ENDS:2020.03.29
abstract submission deadline:2020.01.31
full paper submission deadline:2020.01.31
final submission deadline:2020.02.14
notification of acceptance date:2020.02.14
Geographical:西安古都文化大酒店
Attendance:100
Organization:工程信息研究院
Contacts:张老师
E-mail:subconf@126.com
Contact phone:15071343477
Zip-code:430000
Conference Description

△. 会议简介

2020年胶体与界面化学国际研讨会(CIC 2020)将于2020年3月27-29日在西安举行。本次大会旨在为业内专家学者分享技术进步和业务经验,聚集胶体与界面化学的前沿研究,提供一个交流的平台。会议将集聚来自世界各地的科研人员、工程师、学者及业界专家,展示他们的最新研究成果及应用。  


Call For Papers



Conference Speakers

2020年胶体与界面化学国际研讨会(CIC 2020)

International Conference on Colloid and Interface Chemistry(CIC 2020)

大会官网:http://www.marchconf.org/conference/CIC2020/

大会时间:2020年3月27-29日

大会地点:中国西安

在线投稿:http://www.marchconf.org/RegistrationSubmission/default.aspx?ConferenceID=1226

邮箱投稿:paper_service@163.com

录用通知:论文投稿后1周左右


△.文章出版

所有被会议录用的稿件将会发表在开源期刊,  被知网学术、谷歌学术等收录。

△.投稿须知:

论文应具有学术或实用价值,未在国内外学术期刊或会议发表过。

论文排版格式以及投稿方式详见网站说明。

审稿流程:本次会议采用先投稿,先送专家评审的方式进行,审稿周期约1周。

△.参会方式(注:会议有Oral Presentation以及Poster环节)

1. 全文参会:提交全文,申请参与10-15分钟的口头报告,3600元

2. 摘要参会:提交摘要,申请参与10-15分钟的口头报告,2700元

3. 听众参会:只参会听讲,不参与演讲及展示,2400元

△. 大会咨询

联系人:张老师((Rolin)

邮箱: paper_service@163.com

QQ: 3025797047

电话: 15527426990

△. 大会议题

Colloidal chemistry

Thermodynamics and colloidal chemistry

Colloid and surface chemistry

Colloidal particles, nanoparticles and fluids

Soil colloidal chemistry

Colloid chemistry systems, emulsion science and technology

Colloidal chemistry in pharmacology and medical sciences

Colloid chemistry in advanced ceramics processing

The application of colloidal chemistry in industrial applications

Colloidal chemistry in environmental science and pollution treatment

Colloidal chemistry in biochemistry, biotechnology and bioengineering

Surface chemistry

Applied surface chemistry

Surface chemistry of nanobiomaterials

Nanoscale surface chemistry

Computational surface chemistry

Structure of solid surfaces

Adsorption of molecules on surfaces

The Langmuir isotherm

UHV and effects of gas pressure

Surface analytical techniques

Overlayer structures and surface diffraction

Surface imaging and depth profiling

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